江蘇機械密封件廠家故障分析——平面度的檢測與判斷

密封面的平整度通常通過光波的交叉參考效應來測量。它可以用高質量的激光干燥儀器或光學平板晶體進行測量。前者屬于非接觸測量方法，后者屬于接觸測量方法。光學平板晶體因其供應充足、價格低廉而得到廣泛應用。

下面介紹使用光學平板產品檢測平面度的基本原理

1、 平面晶體

折射率為516.6的玻璃由晶體或平板玻璃制成。根據直徑，有六種類型：60、80、100、150、200和250mm。扁平晶體的尺寸不太大，因為它很難制造。其精度為1級和2級；工作表面的平整度非常高，其偏差不超過0.03um和0.1um。一般選用一級扁晶測量內密封圈端面的平整度，扁晶直徑應大于被測工件的外徑。如果密封圈的外徑超過250mm，或密封圈由非金屬材料制成（反射性差），可采用涂漆方法進行檢查，即測量表面涂有紅丹，且密封圈必須連接在零級平板上。不得連接環的接觸痕跡。如果觸摸連接面積大于總面積的80%，則為合格。

2、 光源

由于單色光源產生相對清晰的干度和圖形，因此通常通過光波干度和測量方法選擇單色光源作為光源。太陽發出的白光實際上由七種顏色組成，每種顏色代表不同波長的電磁波。當白光通過平板晶體發射到被測表面以產生光波相干性時，在被測表面的不同方向上會顯示幾種不同顏色的相關條紋。由于各種顏色的光線混合在一起，相干性和條紋的亮度和清晰度大大減弱，因此畫面不清晰。使用單色光源，它只有一個波長。這幅畫是明暗相間的亮帶。這很清楚。你可以看到更多的干帶和暗帶，讀數更準確。單色光需要單色光源，如鈉燈；自然光也可以通過濾色器獲得。